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相控陣探頭【奧林巴斯Olympus】
我們制造用于不同檢測應用的各種形狀和尺寸的相控陣探頭。這里用示意圖說明了幾種類型的探頭
典型陣列探頭的頻率范圍為1 MHz到17 MHz,晶片的數量范圍為10到128。Olympus提供各種各樣利用壓電復合材料技術的探頭,可進行各種各樣的檢測。本部分說明Olympus的標準相控陣探頭。這些探頭被分為三種類型:角度聲束探頭、整合楔塊探頭及水浸探頭。
其它類型的探頭是根據應用需要而特殊設計的探頭。
這種組合件將一體化楔塊和符合規范的探頭放置于同一個外殼中,這樣就使探頭和楔塊的組合件具有非常薄的側面,可以用于接觸式角度聲束檢測。由于無需在探頭和楔塊接觸面之間使用耦合劑,因此探頭和楔塊之間的耦合狀態會永遠保持*的狀態。這些探頭可對應力腐蝕裂紋進行手動檢測,還可用于符合AWS和DGS規范的應用,此外,這些探頭還可同時使用40°到70°角度對6.35毫米到19毫米的較厚表面進行手動焊縫檢測(對接接頭、角接接頭、T型接頭)。
深穿透探頭可與各種楔塊配合使用,進行各種角度聲束的檢測應用。這些探頭于深穿透應用,如對較厚平板、焊縫、鍛件,及多噪聲或晶粒狀材料的檢測。
焊縫檢測探頭的外殼側面很薄且線纜從前面伸出的特點可以避免受到掃查器探頭架的干擾。這些探頭不僅適用于對厚焊縫進行的手動和自動檢測,還適用于對鑄鐵、鍛件、管道、管件、***加工部件和結構部件中的裂縫和焊接缺陷的檢測。
近壁探頭的兩端具有較短的盲區(*晶片的中心和zui后晶片的中心到與它們zui近的探頭外殼邊緣的距離是1.5毫米)。 它們可以*地適用于復合材料的通道檢測,并用于復合材料的C掃描檢測(分層、脫膠和多孔性)。
用途廣泛的各種探頭與楔塊組合在一起的側面極薄,可以較為容易地進到空間狹小的區域。這些探頭可以和多種楔塊一起使用,進行各種角度聲束檢測應用。這些探頭不僅用于對6.35毫米到38毫米的較厚焊縫進行手動或自動檢測,還可對鑄鐵、鍛件、管道、管件、***加工部件及結構部件的裂縫和焊縫缺陷進行檢測。
Part Number | Item Number | Frequency (MHz) | Number of Elements | Pitch (mm) | Active Aperture (mm) | Elevation (mm) | External Dimensions mm (in.) | ||
L | W | H | |||||||
5L16-A10 | U8330595 | 5.0 | 16 | 0.60 | 9.6 | 10.0 | 23 (0.91) | 16 (0.63) | 20 (0.79) |
10L32-A10 | U8330251 | 10.0 | 32 | 0.31 | 9.9 | 7.0 | 23 (0.91) | 16 (0.63) | 20 (0.79) |
5L32-A11 | U8330274 | 5.0 | 32 | 0.60 | 19.2 | 10.0 | 25 (0.98) | 23 (0.91) | 20 (0.79) |
5L64-A12 | U8330593 | 5.0 | 64 | 0.60 | 38.4 | 10.0 | 45 (1.77) | 23 (0.91) | 20 (0.79) |
5L60-A14 | U8330785 | 5.0 | 60 | 1.0 | 60.0 | 10.0 | 68 (2.68) | 23 (0.91) | 20 (0.79) |
7.5L60-A14 | U8330804 | 7.5 | 60 | 1.0 | 60.0 | 10.0 | 68 (2.68) | 23 (0.91) | 20 (0.79 |
線性陣列探頭是工業應用中zui常用的相控陣探頭。定義相控陣探頭的一個重要因素是探頭的激活孔徑。
小腳印探頭可進入到活動空間狹窄的區域(A00探頭的腳印尺寸為8×8毫米)。
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